UN-CLS454.0/V38

Produkteigenschaften:

· Abdeckung eines großen Arbeitsabstandsbereichs

· Arretierbare Entfernungs- und Blendeneinstellungen

Produktinformationen: Sonderanfertigungen sind auf Anfrage möglich.

Produkteigenschaften:

· Abdeckung eines großen Arbeitsabstandsbereichs

· Arretierbare Entfernungs- und Blendeneinstellungen

Produktinformationen: Sonderanfertigungen sind auf Anfrage möglich.

Produkteigenschaften:

· Abdeckung eines großen Arbeitsabstandsbereichs

· Arretierbare Entfernungs- und Blendeneinstellungen

Produktinformationen: Sonderanfertigungen sind auf Anfrage möglich.

Produkteigenschaften:

· Abdeckung eines großen Arbeitsabstandsbereichs

· Arretierbare Entfernungs- und Blendeneinstellungen

Produktinformationen: Sonderanfertigungen sind auf Anfrage möglich.

Produkteigenschaften:

· Hohe relative Beleuchtung und hoher Kontrast
· Geringe Verzerrung und hervorragende Eckhelligkeit

· Hohe Auflösung

· Kompatibel mit 1" und 1,1" 12MP Kamera

Produktinformationen: Sonderanfertigungen sind auf Anfrage möglich.

Produkteigenschaften:

· Entwickelt für das φ28-Bildformat
· Wellenlänge: 900-1700 nm
· Große Blende, bis zu F1.4
· Kompaktes und leichtes Design

For high-end PCB AOI inspection, Mini/Micro LED panel micro-defect detection, photovoltaic silicon wafer EL hidden crack inspection, narrow precision metal strip flaw detection, luxury printing anti-counterfeit texture inspection, electronic ceramic substrate microscopic inspection and high-precision linear dimension measurement of tiny electronic components.

· Developed for 66mm big frame sensor
· Low distortion
· Compatible for 16K line scan camera
· Excellent optical performance, uniform imaging of center and edge

Product information: Custom designs are available upon request.