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UN-ALS502K01

Produktmerkmale:


· Entwickelt für 32-mm-Big-Frame-Sensor

· Große Blende, bis zu F2,4
· Hohe relative Ausleuchtung
· Objektiv für 2K-, 4K-, 8K-Zeilenkameras
· Hervorragende optische Leistung, gleichmäßige Abbildung von Mitte und Rand
Anfrage jetzt
  • Beschreibung

Zeilenobjektiv  der Aries  -Serie ( 2K )

Modell

UN- ALS50 2K01

Brennweite

50 mm

Feste Blende

2.8

Bildformat

30

Montieren

M42

Feldwinkel

T x H x V (°)

32,3 ° *26 ° *19,7 °

Optische Verzerrung

<-0,03 %

MOD

0,2 m

Abmessungen

Φ 45,2 * 29,42 mm

Flansch BFL

46,5 mm

Hintere Brennweite _ _ _

35,5 mm

Betrieb

Manuelle Iris

Manueller Fokus

Thread filtern

M 43 *0. 7 5


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· Entwickelt für 32-mm-Big-Frame-Sensor

· Große Blende, bis zu F2,4
· Hohe relative Ausleuchtung
· Objektiv für 2K-, 4K-, 8K-Zeilenkameras
· Hervorragende optische Leistung, gleichmäßige Abbildung von Mitte und Rand
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UN-ALS254K

Produkteigenschaften:


· Entwickelt für 30mm Big Frame Sensor

· Große Blende, bis zu F2.4
· Hohe relative Beleuchtung
· Kompatibel für 2K-4K-Zeilenkameras

· Hervorragende optische Leistung, gleichmäßige Abbildung von Mitte und Rand



Produktinformationen: Sonderanfertigungen sind auf Anfrage möglich.



UN-TFA5024X-45MP
UN-TFA5024X-45MP

Produkteigenschaften:


· Hohe relative Beleuchtung und hoher Kontrast
· Geringe Verzerrung und hervorragende Eckhelligkeit

· Hohe Auflösung

· Kompatibel mit 4/3" 45MP Kamera


Produktinformationen: Sonderanfertigungen sind auf Anfrage möglich.

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Kugellinsen werden üblicherweise verwendet, um die Signalqualität bei Faserkopplungsanwendungen oder bei Endoskopie- oder Strichcode-Scananwendungen zu verbessern. Kugellinsen zeichnen sich durch kurze Brennweiten aus, um den Abstand zwischen Kugellinse und Lichtleitfaser zu minimieren. uni optics bietet eine Vielzahl von Kugellinsen in einer Reihe von Substraten für Leistungen im ultravioletten bis nir-Bereich an.
Line Scan Lens UN-ALS14604L16K-0.5X

For high-end PCB AOI micro-inspection, Mini/Micro LED panel pixel defect detection, photovoltaic silicon wafer EL hidden crack inspection, narrow high-temperature metal strip flaw detection, luxury anti-counterfeit printing texture inspection, electronic ceramic substrate microscopic testing, UAV high-precision aerial survey mapping and ultra-precise online dimensional measurement of micro electronic components.


· Developed for 82mm big frame sensor
· Low distortion
· Compatible for 16K line scan camera
· Excellent optical performance, uniform imaging of center and edge

Product information: Custom designs are available upon request.

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