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Produkteigenschaften:
· Entwickelt für 1" Bildformat
· Wellenlänge: 900-1700m· Große Blende, bis zu F1.4
· Kompaktes und leichtes Design
Produkteigenschaften:
· Entwickelt für 1" Bildformat
· Wellenlänge: 900-1700 nm
· Große Blende, bis zu F1.4
· Kompaktes und leichtes Design
vorh :
UN-GSWIR5014C
UN-GSWIR0618C
Produkteigenschaften:
· Entwickelt für 1" Bildformat
· Wellenlänge: 900-1700m· Große Blende, bis zu F1.4
· Kompaktes und leichtes Design
UN-GSWIR1214C
Produkteigenschaften:
· Entwickelt für 1" Bildformat
· Wellenlänge: 900-1700 nm
· Große Blende, bis zu F1.4
· Kompaktes und leichtes Design
SWIR Lens UN-GSWIR752S-14MP
For Semiconductor Wafer Inspection, Biomedical Imaging, Logistics Package Sorting, Wildfire Detection & Ember Monitoring, etc.
· Developed for 1.1" image format
· Wavelength: 800-1700nm
· Large Aperture, up to F2.0
· Compact and lightweight design
UN-GSWIR0814C
UN-GSWIR1614C
| SWIR-Objektiv der Gem m i n i-Serie |
|||
| Modell |
UN-GSWIR 16 14C |
||
| Brennweite |
16 mm |
|
|
| Öffnung |
F 1.4 |
||
| Bildformat |
1 ″ |
||
| Montieren |
C |
||
| Feldwinkel |
|
1 ″ |
|
| D |
54 ° |
||
| H |
43,8 ° |
||
| V |
33,4 ° |
||
| Optische Verzerrung |
<- 0,6 % |
||
| MOD |
0,3 m |
||
| Abmessungen |
Φ 54 * 63,00 mm |
||
| Flansch BFL |
1 7 . 5 26mm |
||
| Hintere Brennweite _ _ _ |
13,72 mm |
||
| Auflösung |
80 LP/mm |
||
| Betrieb |
Manuelle Iris |
||
| Manueller Fokus |
|||
| Design-Wellenlänge |
900-1700 nm |
||
| Thread filtern |
M52x0,75 |
||
 |
|||
UN-GSWIR2514C
| SWIR-Objektiv der Gem m i n i-Serie |
|||
| Modell |
UN-GSWIR 25 14C |
||
| Brennweite |
25 mm |
|
|
| Öffnung |
F 1.4 |
||
| Bildformat |
1 ″ |
||
| Montieren |
C |
||
| Feldwinkel |
|
1 ″ |
|
| D |
61,93 ° |
||
| H |
52,21 ° |
||
| V |
40,1 ° |
||
| Optische Verzerrung |
<- 0,96 % |
||
| MOD |
0,3 m |
||
| Abmessungen |
Φ 36,5 * 54,91 mm |
||
| Flansch BFL |
1 7 . 5 26mm |
||
| Hintere Brennweite _ _ _ |
11,51 mm |
||
| Auflösung |
80 LP/mm |
||
| Betrieb |
Manuelle Iris |
||
| Manueller Fokus |
|||
| Design-Wellenlänge |
900-1700 nm |
||
| Thread filtern |
M 34 *0,5 |
||
 |
|||
UN-GSWIR3514C
UN-GSWIR5014C
UN-TFA5020L-10MP
Line Scan Lens UN-ALS1164L-16K
For high-end PCB AOI inspection, Mini/Micro LED panel micro-defect detection, photovoltaic silicon wafer EL hidden crack inspection, narrow precision metal strip flaw detection, luxury printing anti-counterfeit texture inspection, electronic ceramic substrate microscopic inspection and high-precision linear dimension measurement of tiny electronic components.
· Developed for 66mm big frame sensor
· Low distortion
· Compatible for 16K line scan camera
· Excellent optical performance, uniform imaging of center and edge
Product information: Custom designs are available upon request.
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