UN-SB25104X

Produkteigenschaften:

· Entwickelt für 2/3" Bildformat
· Geringe Verzerrung
· Hohe relative Beleuchtung

· Fokus und Blende mit Schraube fixiert

Produktinformationen: Sonderanfertigungen sind auf Anfrage möglich.

For high-end PCB AOI inspection, Mini/Micro LED panel micro-defect detection, photovoltaic silicon wafer EL hidden crack inspection, narrow precision metal strip flaw detection, luxury printing anti-counterfeit texture inspection, electronic ceramic substrate microscopic inspection and high-precision linear dimension measurement of tiny electronic components.

· Developed for 66mm big frame sensor
· Low distortion
· Compatible for 16K line scan camera
· Excellent optical performance, uniform imaging of center and edge

Product information: Custom designs are available upon request.

Produkteigenschaften:

· Entwickelt für 1" Bildformat

· Große Blende, bis zu F1.4

· Kompaktes und leichtes Design

Artikel Eigenschaften:

1. Kompatibel für 2 / 3 '' Formatsensor

2. Ultrakompakt Design

3. ultra niedrige Verzerrung.

4. Hohe relative Beleuchtung

5. hohe Kostenleistung

6. Versorgung mit Fokus und Irisverriegelung Schrauben.

Artikel Information: Benutzerdefinierte Designs sind verfügbar auf anfordern.

Laden Sie das datasheet von UN-TFA5020C