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· Hohe relative Ausleuchtung und hoher Kontrast
· Geringe Verzerrung und hervorragende Eckenhelligkeit
· Hohe Auflösung
· Kompatibel mit 1''- und 1,1''-20-MP-Kameras
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| Taurus- Serie 1,1 -Zoll -Format-FA- Objektiv ( 20 MP) |
||||||
| Modell |
UN-TFA5028L-20MP |
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| Brennweite |
50mm |
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| Öffnung |
F2.8-F22 |
|||||
| Bildformat |
1,1 ″ |
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| Montieren |
C |
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|
Feldwinkel T x H x V (°) |
|
1,1" |
1" |
1/2" |
1/3" |
|
| D |
19,96 ° |
18,38 ° |
9,34 ° |
6,96 ° |
||
| H |
15,96 ° |
14,70 ° |
7,42 ° |
5,53 ° |
||
| V |
11,96 ° |
10,98 ° |
5,5 ° |
4,16 ° |
||
| Optische Verzerrung |
-0,06 %@ y=8,8mm |
-0,013 %@ y=8,0 mm |
0,010 %@ y=4,0 mm |
0,008 %@ y=3,0 mm |
||
| MOD |
0,25 m |
|||||
| Abmessungen |
Φ 41,4*48,3mm |
|||||
| Flansch BFL |
17,526 mm |
|||||
| Hintere Brennweite _ _ _ |
21,3 mm |
|||||
| Betrieb |
Manuelle Iris |
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| Manueller Fokus |
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| Design-Wellenlänge |
420–1000 nm |
|||||
| Thread filtern |
M37×P0,5 |
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heiße Tags :
vorh :
UN-TFA2528L-20MP
UN-TFA1228L-20MP
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UN-TFA1628L-20MP
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UN-TFA3528L-20MP
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nicht polarisierende Würfelstrahlteiler (npbs)
Line Scan Lens UN-ALS14604L16K-0.5X
For high-end PCB AOI micro-inspection, Mini/Micro LED panel pixel defect detection, photovoltaic silicon wafer EL hidden crack inspection, narrow high-temperature metal strip flaw detection, luxury anti-counterfeit printing texture inspection, electronic ceramic substrate microscopic testing, UAV high-precision aerial survey mapping and ultra-precise online dimensional measurement of micro electronic components.
· Developed for 82mm big frame sensor
· Low distortion
· Compatible for 16K line scan camera
· Excellent optical performance, uniform imaging of center and edge
Product information: Custom designs are available upon request.
UN-CLS954.5/V45
Produkteigenschaften:
· Abdeckung eines großen Arbeitsabstandsbereichs
· Sehr geringe Verzerrung und hohe Auflösung· Arretierbare Entfernungs- und Blendeneinstellungen
Produktinformationen: Sonderanfertigungen sind auf Anfrage möglich.
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