Produkte

UN-LFA1236C-10MP

Anfrage jetzt
  • Beschreibung
eine Nachricht schicken
Wenn Sie Probleme bei der Nutzung der Website oder unserer Produkte haben, schreiben Sie bitte Ihre Kommentare oder Vorschläge auf, wir werden Ihre Fragen so schnell wie möglich beantworten! Vielen Dank für Ihre Aufmerksamkeit!
Wenn Sie Fragen oder Anregungen haben, hinterlassen Sie uns bitte eine Nachricht, wir werden Ihnen so schnell wie möglich antworten!
verwandte Produkte
UN-GNIR3520L-20MP
UN-GNIR3520L-20MP

Produkteigenschaften:


· Hohe relative Beleuchtung und hoher Kontrast

· Geringe Verzerrung und hervorragende Eckhelligkeit

· Hohe Auflösung

· Kompatibel mit 1" und 1,1" 20MP Kamera

UN-TFA5028C-6MP
UN-TFA5028C-6MP

Produkteigenschaften:


· Entwickelt für 2/3" Bildformat
· Geringe Verzerrung
· Hohe relative Beleuchtung

· Fokus und Blende mit Schraube fixiert



Produktinformationen: Sonderanfertigungen sind auf Anfrage möglich.

UN-GSWIR10020C
UN-GSWIR10020C

Produkteigenschaften:


· Entwickelt für 1" Bildformat
· Wellenlänge: 900-1700 nm
· Große Blende, bis zu F1.4
· Kompaktes und leichtes Design

Line Scan Lens UN-ALS6316K

Match with Teledyne camera, for Banknote Inspection, Printing Inspection 


· Ultra High Resolution 
· Large Format Lens



nicht polarisierende Würfelstrahlteiler
nicht polarisierende Würfelstrahlteiler (npbs)
Nicht polarisierende Würfelstrahlteiler, auch npbs-Würfel genannt, sind ein ausgefeilterer Typ, der aus zwei rechtwinkligen Prismen besteht, die an ihren Hypotenusenflächen zusammengesetzt sind. Die zementierte Fläche eines Prismas wird vor dem Zementieren mit einer metallischen oder dielektrischen Schicht beschichtet, die die gewünschten reflektierenden Eigenschaften aufweist , sowohl im prozentualen Reflexionsgrad als auch in der gewünschten Farbe. Der Absorptionsverlust für die Beschichtung ist minimal und die Transmission und Reflexion können auf 10%, 20%, 30%, 40%, 50% usw. ausgelegt werden.
Line Scan Lens UN-ALS1164L-16K

For high-end PCB AOI inspection, Mini/Micro LED panel micro-defect detection, photovoltaic silicon wafer EL hidden crack inspection, narrow precision metal strip flaw detection, luxury printing anti-counterfeit texture inspection, electronic ceramic substrate microscopic inspection and high-precision linear dimension measurement of tiny electronic components.


· Developed for 66mm big frame sensor
· Low distortion
· Compatible for 16K line scan camera
· Excellent optical performance, uniform imaging of center and edge

Product information: Custom designs are available upon request.

UN-GSWIR4016L
UN-GSWIR4016L

Produkteigenschaften:


· Entwickelt für das φ28-Bildformat
· Wellenlänge: 900-1700 nm
· Große Blende, bis zu F1.4
· Kompaktes und leichtes Design

Abonnieren Sie unseren Newsletter
in Kontakt kommen
  • Facebook
  • Youtube
  • Linkedin
  • ins
Fordern Sie ein kostenloses Angebot an
Wenn Sie Probleme bei der Nutzung der Website oder unserer Produkte haben, schreiben Sie bitte Ihre Kommentare oder Vorschläge auf, wir werden Ihre Fragen so schnell wie möglich beantworten! Vielen Dank für Ihre Aufmerksamkeit!

Urheberrechte © © UNI OPTICS CO., LTD © Alle Rechte vorbehalten.

hinterlass eine Nachricht

Zuhause

Produkte

Unternehmen

Kontakt